高規(guī)格半自動四探針電阻/比電阻/薄層電阻測量儀-可根據(jù)客戶需求定制

日本napson高規(guī)格半自動四探針電阻/比電阻/薄層電阻測量儀RT-3000 / RG-2000（RG-3000）

可根據(jù)客戶要求進行各種定制

產(chǎn)品特點

• 具有醉佳電阻測量范圍的4探針法測量儀
• 測量模式可編程和圓形/方形測量兼容的繪圖軟件
• 自檢功能，厚度/外圍位置/溫度補償功能（用于硅）
• 根據(jù)電阻范圍從兩種類型的測試儀中選擇
• （RT-3000（S）：寬范圍的測量范圍，RT-3000（H）：高阻的測量范圍）

測量規(guī)格

測量目標

• 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
• 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
• 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
• 擴散樣本
• 硅基薄膜（LTPS等），IGZO
• 硅基外延離子注入樣品
• 其他（*請與我們聯(lián)系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm 

-選項（兼容大直徑尺寸：RG-3000型）：?12英寸，?210 x 210毫米

測量范圍

①RT-3000（S）；
[電阻（比電阻）]100μ至1MΩ·cm 
[片材電阻] 1m至10MΩ/ 
sq②RT-3000（H）; 
[片材電阻] 10m至1GΩ/ sq

映射圖像

 日本napson高規(guī)格半自動四探針電阻/比電阻/薄層電阻測量儀RT-3000 / RG-2000（RG-3000）